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上海物光-显微熔点仪SGW® X-4B

上海物光-显微熔点仪SGW® X-4B

  • 所属分类:熔点仪
  • 浏览次数:
  • 发布日期:2020-12-22 12:40:46
  • 产品概述
  • 性能特点
  • 技术参数

显微熔点仪

上海物光显微熔点仪SGW® X-4B

【产品特点】

· 仪器采用显微镜观察方法,既可用毛细管法测定,又可用载玻片-盖玻片法(热台法)测定;

· 带有防风罩,减少了环境对测试结果的影响。

【技术参数】

仪器型号

SGW® X-4B

测量范围

室温~320 ℃

测量方法

目视

测量模式

毛细管法、热台法

示值

≥0.1℃

重复性

≤200℃  ±1℃

>200℃  ±2℃

观察方式

双目体视显微镜

放大镜倍数

40×-100×变倍

电源

220V±22V,50Hz±1Hz

仪器尺寸

30mm×22mm×44mm

仪器净重

4.5kg


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